標准單元庫特征化解決方案
通過智能分析算法來分析、提取單元的ARC和功能。
采用先進的分布式並行架構技術。
內置功能強大的NanoSpice仿真器。
精確、高效的平面工藝和FinFET工藝(支持7nm)單元電路特征仿真與提取,包括時序、功耗及噪聲等。
提供友好、易使用的接口,幫助用戶縮短当前產品開發周期。

配備先進的分布式並行架構
比REF工具快2倍
基于單元電路分析算法
自動化完整提取ARC
內置並行的NanoSpice引擎
支持先進的K庫模型
支持7nm
FinFET先進工藝
簡潔易用的配置和用戶接口
內置便捷的benchmark liberty utility工具
支持ARM/X86和SGE/LSF集群
擴容性良好
Planar工藝庫特征化
FinFET工藝庫特征化
定制化單元庫特征化
雲計算庫特征化