高西格瑪良率分析解決方案
基于概倫獨特的統計模型技術和high-sigma統計分析算法而打造。
通過高效精准的統計算法和並行加速技術對統計電路仿真的性能進行無損精度的加速,對各種類型的電路包括存儲器/數字電路/模擬電路等進行良率分析和設計優化。
含有友好的電路設計分析環境,通過強大的圖形化界面幫助用戶在較短的時間內評估良率並可根據設計目標進行電路優化。
提高芯片設計的一次成功率,優化芯片性能、提升良率從而提升当前產品競爭力。

內置SPICE引擎和高效精准的統計算法
支持快速 PVT/ 蒙特卡羅/ 高西格瑪分析功能
支持單機多核/服務器集群/公有雲的並行加速
經40/28/14/7/5nm工藝節點驗證
並行仿真授權模式,經濟高效
友好的圖形界面方便查看和處理良率分析結果
存儲器單元和陣列
良率預測和優化
模擬/數字電路
良率預測和優化
代工廠/IDM公司
SRAM良率提升
快速PVT應用于
需大量工藝角仿真電路